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1. Fukuda, Tsuyoshi Valentim. Controle estat?stico de processo aplicado ? produ??o de dispositivos eletr?nicos.

Degree: 2009, Universidade Federal do Amazonas

A manufatura de produtos eletr?nicos de comunica??o m?vel demanda um controle de qualidade apurado que ? atingido atrav?s de medi??es e de sintonias de cada unidade produzida. O objetivo deste trabalho ? avaliar o uso de controle estat?stico de processo (CEP) para monitorar a qualidade dos produtos e o ?ndice Cpk de capacidade do processo. Em outras palavras, este estudo compara a sensibilidade do gr?fico de controle para detectar varia??es na m?dia e no desvio padr?o do processo. Nesse sentido, foi usada a medi??o de um par?metro cr?tico do dispositivo produzido, a pot?ncia irradiada. Neste estudo, gr?ficos de controle de Shewhart e de soma cumulativa (CUSUM) foram analisados comparativamente para encontrar o melhor CEP para garantir medi??es mais exatas e dispositivos sintonizados com menores desvios. Shewhart, neste caso, usa a m?dia e o desvio padr?o de amostras observadas num per?odo de tempo definido. Os gr?ficos de controle CUSUM, baseado em somas cumulativas, s?o ferramentas estat?sticas usadas com sucesso para avaliar processos de diferentes ind?strias. O gr?fico de Shewhart foi otimizado para monitorar o ?ndice de capacidade Cpk. De acordo com os resultados obtidos nas condi??es do experimento, o gr?fico de controle CUSUM mostrou maior sensibilidade para pequenos desvios no processo. N?o foi obsevada a efic?cia do gr?fico de Shewhart otimizado para monitorar o ?ndice de capacidade Cpk.

Manufacturing electronic mobile communication products requires high quality control, achieved through measurements and tunings of each unit produced. The goal of this publication is the evaluation of statistical process control (SPC) to monitor the quality of products and the process capability index Cpk. In other words, this study compares the sensitivity of control charts to detect variations in process mean and standard deviation. In this sense, Shewhart control charts and cumulative sum (CUSUM) control charts were comparatively analyzed to select the best SPC in order to guarantee more accurate measurements and devices tuned with lower deviations. Shewhart, in this case, uses the mean and the standard deviation of samples measured during a defined period of time. CUSUM control charts, based on cumulative sums, are statistical tools successfully used to evaluate processes in different industries. The Shewhart control chart was optimized to monitor the capability index Cpk. According to results obtained under the conditions of this experience, CUSUM control chart has higher sensibility when the process has small shifts. It was not observed efficacy of optimized Shewhart control chart to monitor Cpk.

Advisors/Committee Members: Silva, Ocileide Cust?dio da, CPF:78592267404, http://lattes.cnpq.br/6820579608406432.

Subjects/Keywords: CEP; Shewhart; CUSUM, Cpk.; SPC; Shewhart; CUSUM; Cpk.; ENGENHARIAS: ENGENHARIA DE PRODU??O

Record DetailsSimilar RecordsGoogle PlusoneFacebookTwitterCiteULikeMendeleyreddit

APA · Chicago · MLA · Vancouver · CSE | Export to Zotero / EndNote / Reference Manager

APA (6th Edition):

Fukuda, T. V. (2009). Controle estat?stico de processo aplicado ? produ??o de dispositivos eletr?nicos. (Masters Thesis). Universidade Federal do Amazonas. Retrieved from http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Fukuda, Tsuyoshi Valentim. “Controle estat?stico de processo aplicado ? produ??o de dispositivos eletr?nicos.” 2009. Masters Thesis, Universidade Federal do Amazonas. Accessed March 07, 2021. http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546.

MLA Handbook (7th Edition):

Fukuda, Tsuyoshi Valentim. “Controle estat?stico de processo aplicado ? produ??o de dispositivos eletr?nicos.” 2009. Web. 07 Mar 2021.

Vancouver:

Fukuda TV. Controle estat?stico de processo aplicado ? produ??o de dispositivos eletr?nicos. [Internet] [Masters thesis]. Universidade Federal do Amazonas; 2009. [cited 2021 Mar 07]. Available from: http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546.

Council of Science Editors:

Fukuda TV. Controle estat?stico de processo aplicado ? produ??o de dispositivos eletr?nicos. [Masters Thesis]. Universidade Federal do Amazonas; 2009. Available from: http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546

2. Fukuda, Tsuyoshi Valentim. Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos.

Degree: 2009, Universidade Federal do Amazonas

A manufatura de produtos eletrônicos de comunicação móvel demanda um controle de qualidade apurado que é atingido através de medições e de sintonias de cada unidade produzida. O objetivo deste trabalho é avaliar o uso de controle estatístico de processo (CEP) para monitorar a qualidade dos produtos e o índice Cpk de capacidade do processo. Em outras palavras, este estudo compara a sensibilidade do gráfico de controle para detectar variações na média e no desvio padrão do processo. Nesse sentido, foi usada a medição de um parâmetro crítico do dispositivo produzido, a potência irradiada. Neste estudo, gráficos de controle de Shewhart e de soma cumulativa (CUSUM) foram analisados comparativamente para encontrar o melhor CEP para garantir medições mais exatas e dispositivos sintonizados com menores desvios. Shewhart, neste caso, usa a média e o desvio padrão de amostras observadas num período de tempo definido. Os gráficos de controle CUSUM, baseado em somas cumulativas, são ferramentas estatísticas usadas com sucesso para avaliar processos de diferentes indústrias. O gráfico de Shewhart foi otimizado para monitorar o índice de capacidade Cpk. De acordo com os resultados obtidos nas condições do experimento, o gráfico de controle CUSUM mostrou maior sensibilidade para pequenos desvios no processo. Não foi obsevada a eficácia do gráfico de Shewhart otimizado para monitorar o índice de capacidade Cpk.

Manufacturing electronic mobile communication products requires high quality control, achieved through measurements and tunings of each unit produced. The goal of this publication is the evaluation of statistical process control (SPC) to monitor the quality of products and the process capability index Cpk. In other words, this study compares the sensitivity of control charts to detect variations in process mean and standard deviation. In this sense, Shewhart control charts and cumulative sum (CUSUM) control charts were comparatively analyzed to select the best SPC in order to guarantee more accurate measurements and devices tuned with lower deviations. Shewhart, in this case, uses the mean and the standard deviation of samples measured during a defined period of time. CUSUM control charts, based on cumulative sums, are statistical tools successfully used to evaluate processes in different industries. The Shewhart control chart was optimized to monitor the capability index Cpk. According to results obtained under the conditions of this experience, CUSUM control chart has higher sensibility when the process has small shifts. It was not observed efficacy of optimized Shewhart control chart to monitor Cpk.

Advisors/Committee Members: Silva, Ocileide Custodio da, CPF:78592267404, http://lattes.cnpq.br/6820579608406432.

Subjects/Keywords: CEP; Shewhart; CUSUM, Cpk.; SPC; Shewhart; CUSUM; Cpk.; ENGENHARIAS: ENGENHARIA DE PRODUÇÃO

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APA (6th Edition):

Fukuda, T. V. (2009). Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos. (Masters Thesis). Universidade Federal do Amazonas. Retrieved from http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Fukuda, Tsuyoshi Valentim. “Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos.” 2009. Masters Thesis, Universidade Federal do Amazonas. Accessed March 07, 2021. http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546.

MLA Handbook (7th Edition):

Fukuda, Tsuyoshi Valentim. “Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos.” 2009. Web. 07 Mar 2021.

Vancouver:

Fukuda TV. Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos. [Internet] [Masters thesis]. Universidade Federal do Amazonas; 2009. [cited 2021 Mar 07]. Available from: http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546.

Council of Science Editors:

Fukuda TV. Controle estatístico de processo aplicado à produção de dispositivos eletrônicos. [Masters Thesis]. Universidade Federal do Amazonas; 2009. Available from: http://tede.ufam.edu.br/handle/tede/3546

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