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Tokyo Institute of Technology / 東京工業大学

1. 倉田, 英明. 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 : 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究.

Degree: 2017, Tokyo Institute of Technology / 東京工業大学

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APA · Chicago · MLA · Vancouver · CSE | Export to Zotero / EndNote / Reference Manager

APA (6th Edition):

倉田, . (2017). 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 : 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究. (Thesis). Tokyo Institute of Technology / 東京工業大学. Retrieved from http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100751615

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

倉田, 英明. “大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 : 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究.” 2017. Thesis, Tokyo Institute of Technology / 東京工業大学. Accessed November 19, 2017. http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100751615.

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MLA Handbook (7th Edition):

倉田, 英明. “大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 : 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究.” 2017. Web. 19 Nov 2017.

Vancouver:

倉田 . 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 : 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究. [Internet] [Thesis]. Tokyo Institute of Technology / 東京工業大学; 2017. [cited 2017 Nov 19]. Available from: http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100751615.

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Not specified: Masters Thesis or Doctoral Dissertation

Council of Science Editors:

倉田 . 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究 : 大容量多値フラッシュメモリのための高速化および高信頼化技術の研究. [Thesis]. Tokyo Institute of Technology / 東京工業大学; 2017. Available from: http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/publicationinfo.cgi?q_publication_content_number=CTT100751615

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Not specified: Masters Thesis or Doctoral Dissertation

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