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Université de Bordeaux I

1. Celi, Guillaume. Etude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur. : Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.

Degree: Docteur es, Electronique, 2013, Université de Bordeaux I

L'analyse de défaillances joue un rôle important dans l'amélioration des performances et de la fabrication des circuits intégrés. Des défaillances peuvent intervenir à tout moment… (more)

Subjects/Keywords: Analyse de défaillance; Localisation de défauts; Silicium; LVI; Thermoréflectance; TFI; Stimulation laser; Interaction laser/Silicium; Failure analysis; Defect localization; Silicon; LVI; Thermoreflectance; TFI; Aser stimulation; Laser / silicon interaction

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APA (6th Edition):

Celi, G. (2013). Etude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur. : Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2013BOR14774

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Celi, Guillaume. “Etude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur. : Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.” 2013. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2013BOR14774.

MLA Handbook (7th Edition):

Celi, Guillaume. “Etude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur. : Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.” 2013. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Celi G. Etude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur. : Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR14774.

Council of Science Editors:

Celi G. Etude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur. : Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR14774


Université de Bordeaux I

2. Sienkiewicz, Magdalena. Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques : Ergonomic support of the activity of CHSCT staff representatives. Ergonomic intervention in SCNF CHSCTs.

Degree: Docteur es, Electronique, 2010, Université de Bordeaux I

Cette thèse s’inscrit dans le domaine de la localisation de défauts de type «soft» dans les Circuits Intégrés (CI) analogiques et mixtes à l’aide des… (more)

Subjects/Keywords: Analyse de défaillance; CI analogique et mixte; Techniques xVM; Localisation de défauts « soft »; Stimulation par faisceau laser continu en faible perturbation; Modélisation et simulations électriques de l’interaction faisceau laser-CI; Phénomène photo-thermique et photoélectrique; Failure analysis, Soft defect localization, analog and mixed mode ICs, laser stimulation, xVM techniques, modeling and simulations of interaction laser beam-IC, photoelectric and thermal phenomena

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APA (6th Edition):

Sienkiewicz, M. (2010). Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques : Ergonomic support of the activity of CHSCT staff representatives. Ergonomic intervention in SCNF CHSCTs. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2010BOR14028

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Sienkiewicz, Magdalena. “Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques : Ergonomic support of the activity of CHSCT staff representatives. Ergonomic intervention in SCNF CHSCTs.” 2010. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2010BOR14028.

MLA Handbook (7th Edition):

Sienkiewicz, Magdalena. “Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques : Ergonomic support of the activity of CHSCT staff representatives. Ergonomic intervention in SCNF CHSCTs.” 2010. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Sienkiewicz M. Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques : Ergonomic support of the activity of CHSCT staff representatives. Ergonomic intervention in SCNF CHSCTs. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2010. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2010BOR14028.

Council of Science Editors:

Sienkiewicz M. Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques : Ergonomic support of the activity of CHSCT staff representatives. Ergonomic intervention in SCNF CHSCTs. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2010. Available from: http://www.theses.fr/2010BOR14028


Université de Bordeaux I

3. Machouat, Aziz. Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques : Synthesis of "metallic nanoparticles / polymer" nanocomposites in supercritical fluids.

Degree: Docteur es, Electronique, 2008, Université de Bordeaux I

Avec l’évolution des technologies vers la haute intégration, il devient de plus en plus difficile de localiser les défaillances fonctionnelles situées dans la partie logique… (more)

Subjects/Keywords: Analyse de défaillance; OBIRCh; Techniques optiques; Diagnostic ATPG; Failure analysis; diagnostic ATPG; opticals techniques; fonctional failure

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APA (6th Edition):

Machouat, A. (2008). Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques : Synthesis of "metallic nanoparticles / polymer" nanocomposites in supercritical fluids. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2008BOR13709

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Machouat, Aziz. “Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques : Synthesis of "metallic nanoparticles / polymer" nanocomposites in supercritical fluids.” 2008. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2008BOR13709.

MLA Handbook (7th Edition):

Machouat, Aziz. “Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques : Synthesis of "metallic nanoparticles / polymer" nanocomposites in supercritical fluids.” 2008. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Machouat A. Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques : Synthesis of "metallic nanoparticles / polymer" nanocomposites in supercritical fluids. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2008. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2008BOR13709.

Council of Science Editors:

Machouat A. Développement et application d’une méthode d’analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l’amélioration de l’utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques : Synthesis of "metallic nanoparticles / polymer" nanocomposites in supercritical fluids. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2008. Available from: http://www.theses.fr/2008BOR13709


Université de Bordeaux I

4. Bascoul, Guillaume. Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI : Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components.

Degree: Docteur es, Electronique, 2013, Université de Bordeaux I

Les technologies VLSI (« Very large Scale Integration ») font partie de notre quotidien et nos besoins en miniaturisation sont croissants. La densification des transistors… (more)

Subjects/Keywords: Cartographie en Emission de lumière dynamique; Analyse de défaillance microélectronique; Détection de photons en temps résolu; Dynamic light emission cartography; Microelectronic Failure Analysis; Time resolved photon counting detection

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APA (6th Edition):

Bascoul, G. (2013). Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI : Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2013BOR14876

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Bascoul, Guillaume. “Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI : Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components.” 2013. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2013BOR14876.

MLA Handbook (7th Edition):

Bascoul, Guillaume. “Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI : Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components.” 2013. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Bascoul G. Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI : Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR14876.

Council of Science Editors:

Bascoul G. Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI : Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR14876


Université de Bordeaux I

5. Deyine, Amjad. Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI : Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes.

Degree: Docteur es, Electronique, 2011, Université de Bordeaux I

 L’objectif principal du projet est d’étudier les techniques d’analyses de défaillances des circuits intégrés VLSI basées sur l’emploi de laser. Les études ont été effectuées… (more)

Subjects/Keywords: Stimulation laser; Circuit intégré; Laser stimulation; Integrated circuit

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APA (6th Edition):

Deyine, A. (2011). Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI : Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2011BOR14252

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Deyine, Amjad. “Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI : Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes.” 2011. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2011BOR14252.

MLA Handbook (7th Edition):

Deyine, Amjad. “Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI : Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes.” 2011. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Deyine A. Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI : Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2011. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2011BOR14252.

Council of Science Editors:

Deyine A. Contribution au développement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de défauts dans les circuits VLSI : Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2011. Available from: http://www.theses.fr/2011BOR14252


Université de Bordeaux I

6. Infante, Fulvio. Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits : Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels.

Degree: Docteur es, Electronique, 2011, Université de Bordeaux I

Dans ce travail, de nouveaux développements sur les techniques de localisation des composants électroniques en trois dimensions sont montrés. Ces développements sont réalisés grâce à… (more)

Subjects/Keywords: Microscopie Magnétique; Analyse de Défaillance; Localisation des Défauts; Composants tridimensionnels; Squid; Micro-électronique; Magnetic Microscopy; Failure Analysis; Defect Localization; Three-dimensional Components; Squid; Microelectronics

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APA (6th Edition):

Infante, F. (2011). Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits : Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2011BOR14394

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Infante, Fulvio. “Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits : Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels.” 2011. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2011BOR14394.

MLA Handbook (7th Edition):

Infante, Fulvio. “Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits : Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels.” 2011. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Infante F. Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits : Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2011. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2011BOR14394.

Council of Science Editors:

Infante F. Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits : Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2011. Available from: http://www.theses.fr/2011BOR14394


Université de Bordeaux I

7. Shao, Kai. Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity.

Degree: Docteur es, Electronique, 2012, Université de Bordeaux I

-Utilisation de l’interaction non-linéaire entre des impulsions laser (proche infrarouge) ultracourtes et le silicium, en mode d’absorption multiphotonique ou de génération d’harmoniques optiques, pour la… (more)

Subjects/Keywords: Nonlinéaire; Optique; Analyse de défaillance; Microélectronique; Nonlinear; Optics; Failure analysis; Microelectronique

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APA (6th Edition):

Shao, K. (2012). Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2012BOR14596

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Shao, Kai. “Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity.” 2012. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2012BOR14596.

MLA Handbook (7th Edition):

Shao, Kai. “Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity.” 2012. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Shao K. Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14596.

Council of Science Editors:

Shao K. Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14596


Université de Bordeaux I

8. Llido, Roxane. Contribution à l’étude de la stimulation photoélectrique laser pour le développement de nouvelles méthodologies d’analyse de défaillance : Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development.

Degree: Docteur es, Electronique, 2012, Université de Bordeaux I

Les approches basées sur la stimulation thermique laser restent largement privilégiées par rapport à la stimulation photoélectrique laser. Ceci est en partie du au fait… (more)

Subjects/Keywords: Analyse de défaillance; Localisation de défauts; Laser photoélectrique; Stimulation laser; Interaction laser photoélectrique/silicium; Failure analysis; Default localization; Photoelectric laser; Laser stimulation; Photoelectric laser/silicon interaction

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APA (6th Edition):

Llido, R. (2012). Contribution à l’étude de la stimulation photoélectrique laser pour le développement de nouvelles méthodologies d’analyse de défaillance : Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2012BOR14694

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Llido, Roxane. “Contribution à l’étude de la stimulation photoélectrique laser pour le développement de nouvelles méthodologies d’analyse de défaillance : Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development.” 2012. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2012BOR14694.

MLA Handbook (7th Edition):

Llido, Roxane. “Contribution à l’étude de la stimulation photoélectrique laser pour le développement de nouvelles méthodologies d’analyse de défaillance : Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development.” 2012. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Llido R. Contribution à l’étude de la stimulation photoélectrique laser pour le développement de nouvelles méthodologies d’analyse de défaillance : Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14694.

Council of Science Editors:

Llido R. Contribution à l’étude de la stimulation photoélectrique laser pour le développement de nouvelles méthodologies d’analyse de défaillance : Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14694


Université de Bordeaux I

9. Faraud, Emeric. Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés : Improvement of the deployment process of a PLM solution by using mind map and persona : the case of LASCOM.

Degree: Docteur es, Electronique, 2012, Université de Bordeaux I

Les techniques de localisation de défauts basées sur la stimulation laser restent aujourd'hui les techniques parmi les plus avancées qui existent. Elles permettent la stimulation… (more)

Subjects/Keywords: Stimulation laser; Effet des radiations; Analyse de circuits intégrés; Laser stimulation; Failure analysis; Radiation testing

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APA (6th Edition):

Faraud, E. (2012). Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés : Improvement of the deployment process of a PLM solution by using mind map and persona : the case of LASCOM. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2012BOR14677

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Faraud, Emeric. “Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés : Improvement of the deployment process of a PLM solution by using mind map and persona : the case of LASCOM.” 2012. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2012BOR14677.

MLA Handbook (7th Edition):

Faraud, Emeric. “Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés : Improvement of the deployment process of a PLM solution by using mind map and persona : the case of LASCOM.” 2012. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Faraud E. Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés : Improvement of the deployment process of a PLM solution by using mind map and persona : the case of LASCOM. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14677.

Council of Science Editors:

Faraud E. Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés : Improvement of the deployment process of a PLM solution by using mind map and persona : the case of LASCOM. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14677


Université de Bordeaux I

10. Fernandez, Thomas. Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG) : Liver focal lesion caracterisation on multi-phase scanner acquisitions.

Degree: Docteur es, Electronique, 2009, Université de Bordeaux I

Ce travail contribue à l’évaluation de la technique de génération de seconde harmonique induite par un champ électrique quasi statique, ou technique EFISHG, appliquée au… (more)

Subjects/Keywords: Génération de seconde harmonique induite par laser (EFISHG); Optique non linéaire; « Negative Bias Temperature Instability » (NBTI); Mesure de champs électriques dans les circuits intégrés; Piégeage de charge à l’interface Si/SiO2; Electric field induced second harmonic generation (EFISHG); Electric field measurement in integrated circuits; Charge trapping at Si/SiO2 interface

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APA (6th Edition):

Fernandez, T. (2009). Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG) : Liver focal lesion caracterisation on multi-phase scanner acquisitions. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2009BOR13846

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Fernandez, Thomas. “Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG) : Liver focal lesion caracterisation on multi-phase scanner acquisitions.” 2009. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2009BOR13846.

MLA Handbook (7th Edition):

Fernandez, Thomas. “Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG) : Liver focal lesion caracterisation on multi-phase scanner acquisitions.” 2009. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Fernandez T. Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG) : Liver focal lesion caracterisation on multi-phase scanner acquisitions. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2009. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2009BOR13846.

Council of Science Editors:

Fernandez T. Contribution à l'évaluation de la technique de génération d'harmonique par faisceau laser pour la mesure des champs électriques dans les circuits intégrés (EFISHG) : Liver focal lesion caracterisation on multi-phase scanner acquisitions. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2009. Available from: http://www.theses.fr/2009BOR13846


Université de Bordeaux I

11. Ferrigno, Julie. Caractérisation de circuits intégrés par émission de lumière statique et dynamique : Optimal control of turbulent channel flow using Large Eddy Simulations.

Degree: Docteur es, Electronique, 2008, Université de Bordeaux I

Les circuits VLSI (”Very Large Scale Integration”) et ULSI (”Ultra Large Scale Integration”) occupent une grande place dans le monde des semi-conducteurs. Leur complexi?cation croissante… (more)

Subjects/Keywords: Semiconducteur; Analyse de défaillance; Emission de lumière; Simulation de fautes; Circuits intégrés; Microélectronique digitale

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APA (6th Edition):

Ferrigno, J. (2008). Caractérisation de circuits intégrés par émission de lumière statique et dynamique : Optimal control of turbulent channel flow using Large Eddy Simulations. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2008BOR13719

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Ferrigno, Julie. “Caractérisation de circuits intégrés par émission de lumière statique et dynamique : Optimal control of turbulent channel flow using Large Eddy Simulations.” 2008. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2008BOR13719.

MLA Handbook (7th Edition):

Ferrigno, Julie. “Caractérisation de circuits intégrés par émission de lumière statique et dynamique : Optimal control of turbulent channel flow using Large Eddy Simulations.” 2008. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Ferrigno J. Caractérisation de circuits intégrés par émission de lumière statique et dynamique : Optimal control of turbulent channel flow using Large Eddy Simulations. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2008. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2008BOR13719.

Council of Science Editors:

Ferrigno J. Caractérisation de circuits intégrés par émission de lumière statique et dynamique : Optimal control of turbulent channel flow using Large Eddy Simulations. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2008. Available from: http://www.theses.fr/2008BOR13719


Université de Bordeaux I

12. Remmach, Mustapha. Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental : Localized irradiations for covalent graftings on glass substrates.

Degree: Docteur es, Electronique, 2009, Université de Bordeaux I

L’émission de lumière est une puissante technique de localisation dans le domaine de l’analyse de défaillance des circuits intégrés. Depuis plusieurs années, elle est utilisée… (more)

Subjects/Keywords: Analyse de défaillance; Emission par porteurs chauds; Techniques PICA et TRE; Défaut dynamique; Failure Analysis; Hot carrier Emission; TRE Technique; PICA Technique; Dynamic Faults

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APA (6th Edition):

Remmach, M. (2009). Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental : Localized irradiations for covalent graftings on glass substrates. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2009BOR13830

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Remmach, Mustapha. “Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental : Localized irradiations for covalent graftings on glass substrates.” 2009. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2009BOR13830.

MLA Handbook (7th Edition):

Remmach, Mustapha. “Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental : Localized irradiations for covalent graftings on glass substrates.” 2009. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Remmach M. Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental : Localized irradiations for covalent graftings on glass substrates. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2009. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2009BOR13830.

Council of Science Editors:

Remmach M. Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental : Localized irradiations for covalent graftings on glass substrates. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2009. Available from: http://www.theses.fr/2009BOR13830


Université de Bordeaux I

13. Morisset, Adèle. Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire : Mechanisms involved in the transmission of epigenetic deregulation : analyses of transmission in human sperm.

Degree: Docteur es, Electronique, 2013, Université de Bordeaux I

Cette thèse est consacrée à l’étude des mécanismes d’interaction laser-matière en régime femtoseconde pour l’analyse de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire. Cette technique permet… (more)

Subjects/Keywords: Analyse de circuits intégrés; Stimulation laser; Optique non-linéaire; Absorption à 2-photon; Fibres photoniques; Integrated circuit analysis; Laser Stimulation; Nonlinear optics; Two-photon absorption (TPA); Photonic Fibers

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APA (6th Edition):

Morisset, A. (2013). Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire : Mechanisms involved in the transmission of epigenetic deregulation : analyses of transmission in human sperm. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2013BOR14792

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Morisset, Adèle. “Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire : Mechanisms involved in the transmission of epigenetic deregulation : analyses of transmission in human sperm.” 2013. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2013BOR14792.

MLA Handbook (7th Edition):

Morisset, Adèle. “Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire : Mechanisms involved in the transmission of epigenetic deregulation : analyses of transmission in human sperm.” 2013. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Morisset A. Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire : Mechanisms involved in the transmission of epigenetic deregulation : analyses of transmission in human sperm. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR14792.

Council of Science Editors:

Morisset A. Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire : Mechanisms involved in the transmission of epigenetic deregulation : analyses of transmission in human sperm. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR14792


Université de Bordeaux I

14. El Moukhtari, Issam. Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity.

Degree: Docteur es, Electronique, 2012, Université de Bordeaux I

Ce travail constitue une contribution à l’étude de la synergie entre le vieillissement accéléré et l’évolution de la robustesse aux évènements singuliers pour les technologies… (more)

Subjects/Keywords: Nbti; Porteurs chaud; Tddb; Électromigration; Effets singuliers; Test par faisceau Laser pulsé; CMOS 65 nm basse puissance; Robustesse; Nbti; Hci; Tddb; Electromigration; Single Event Effects; Pulsed laser testing; CMOS 65 nm Low Power; Robustness

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APA (6th Edition):

El Moukhtari, I. (2012). Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2012BOR14650

Chicago Manual of Style (16th Edition):

El Moukhtari, Issam. “Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity.” 2012. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2012BOR14650.

MLA Handbook (7th Edition):

El Moukhtari, Issam. “Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity.” 2012. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

El Moukhtari I. Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14650.

Council of Science Editors:

El Moukhtari I. Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques : Systems and methods for adaptive and real-time detection of biological activity. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2012. Available from: http://www.theses.fr/2012BOR14650


Université de Bordeaux I

15. Godlewski, Catherine. Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS : Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology.

Degree: Docteur es, Electronique, 2013, Université de Bordeaux I

 Ce travail porte sur l’analyse et l’étude du comportement de circuits intégrés en technologie CMOS soumis à un impact laser. Une méthodologie d’implémentation d’un impact… (more)

Subjects/Keywords: Interaction laser-silicium; Laser; Modélisation électrique; Flot d'intégration; Méthodologie; Fautes fonctionnelles; Fautes comportementales; Cmos; Prédiction du comportement; Photocourant; Potentiel photoélectrique; Laser-Silicon Interaction; Laser; Electrical Modelling; Integration flow; Methodology; Functional failure; Behaviour failure; Cmos; Behaviour prediction; Photocurrent; Photoelectrical potential

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APA (6th Edition):

Godlewski, C. (2013). Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS : Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2013BOR15209

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Godlewski, Catherine. “Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS : Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology.” 2013. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2013BOR15209.

MLA Handbook (7th Edition):

Godlewski, Catherine. “Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS : Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology.” 2013. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Godlewski C. Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS : Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR15209.

Council of Science Editors:

Godlewski C. Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS : Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR15209


Université de Bordeaux I

16. Mbaye, Nogaye. Contribution à l’étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques : Développement et évaluation de méthodes multicapteurs pour la mission EarthCare, à partir des mesures de l’A-Train et des missions aéroportées.

Degree: Docteur es, Electronique, 2013, Université de Bordeaux I

Ce travail présente la mise en œuvre du test par faisceau laser TPA pour l’étude de la sensibilité au phénomène SEB dans les diodes schottky… (more)

Subjects/Keywords: Single Event Burnout; Diode Schottky; Test par faisceau laser pulsé TPA; Absorption par deux photons; Single Event Burnout; Schottky Diode; TPA pulsed laser testing; Two Photon Absorption (TPA)

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APA (6th Edition):

Mbaye, N. (2013). Contribution à l’étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques : Développement et évaluation de méthodes multicapteurs pour la mission EarthCare, à partir des mesures de l’A-Train et des missions aéroportées. (Doctoral Dissertation). Université de Bordeaux I. Retrieved from http://www.theses.fr/2013BOR15009

Chicago Manual of Style (16th Edition):

Mbaye, Nogaye. “Contribution à l’étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques : Développement et évaluation de méthodes multicapteurs pour la mission EarthCare, à partir des mesures de l’A-Train et des missions aéroportées.” 2013. Doctoral Dissertation, Université de Bordeaux I. Accessed August 21, 2019. http://www.theses.fr/2013BOR15009.

MLA Handbook (7th Edition):

Mbaye, Nogaye. “Contribution à l’étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques : Développement et évaluation de méthodes multicapteurs pour la mission EarthCare, à partir des mesures de l’A-Train et des missions aéroportées.” 2013. Web. 21 Aug 2019.

Vancouver:

Mbaye N. Contribution à l’étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques : Développement et évaluation de méthodes multicapteurs pour la mission EarthCare, à partir des mesures de l’A-Train et des missions aéroportées. [Internet] [Doctoral dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. [cited 2019 Aug 21]. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR15009.

Council of Science Editors:

Mbaye N. Contribution à l’étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques : Développement et évaluation de méthodes multicapteurs pour la mission EarthCare, à partir des mesures de l’A-Train et des missions aéroportées. [Doctoral Dissertation]. Université de Bordeaux I; 2013. Available from: http://www.theses.fr/2013BOR15009

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