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You searched for +publisher:"Universidade Estadual de Campinas" +contributor:("Cardoso, Lisandro Pavie, 1950-"). Showing records 1 – 23 of 23 total matches.

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Universidade Estadual de Campinas

1. Freitas, Hugo Eugênio de, 1991-. Difração Bragg-Superfície (BSD) de raios X no estudo do efeito do tratamento térmico em Si(111) implantado com íons Cr+ .

Degree: 2016, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: No presente trabalho estudou-se a diferença entre dois tratamentos térmicos realizados em amostras de Si(111) implantadas com íons Cr+, utilizando-se a difratometria de raios… (more)

Subjects/Keywords: Difração Bragg-Superfície; Raios X - Difração

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APA (6th Edition):

Freitas, Hugo Eugênio de, 1. (2016). Difração Bragg-Superfície (BSD) de raios X no estudo do efeito do tratamento térmico em Si(111) implantado com íons Cr+ . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/305749

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Freitas, Hugo Eugênio de, 1991-. “Difração Bragg-Superfície (BSD) de raios X no estudo do efeito do tratamento térmico em Si(111) implantado com íons Cr+ .” 2016. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/305749.

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MLA Handbook (7th Edition):

Freitas, Hugo Eugênio de, 1991-. “Difração Bragg-Superfície (BSD) de raios X no estudo do efeito do tratamento térmico em Si(111) implantado com íons Cr+ .” 2016. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Freitas, Hugo Eugênio de 1. Difração Bragg-Superfície (BSD) de raios X no estudo do efeito do tratamento térmico em Si(111) implantado com íons Cr+ . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2016. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/305749.

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Council of Science Editors:

Freitas, Hugo Eugênio de 1. Difração Bragg-Superfície (BSD) de raios X no estudo do efeito do tratamento térmico em Si(111) implantado com íons Cr+ . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2016. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/305749

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Universidade Estadual de Campinas

2. Hayashi, Marcelo Assaoka. Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica .

Degree: 1995, Universidade Estadual de Campinas

Resumo: Não informado; Abstract: Not informed. Advisors/Committee Members: Cardoso, Lisandro Pavie, 1950- (advisor).

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Implantação iônica; Semicondutores

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APA (6th Edition):

Hayashi, M. A. (1995). Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278179

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Hayashi, Marcelo Assaoka. “Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica .” 1995. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278179.

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MLA Handbook (7th Edition):

Hayashi, Marcelo Assaoka. “Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica .” 1995. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Hayashi MA. Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1995. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278179.

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Council of Science Editors:

Hayashi MA. Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1995. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278179

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Universidade Estadual de Campinas

3. Morelhão, Sergio Luiz. A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas .

Degree: 1990, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, é desenvolvido um método baseado na técnica de difração múltipla de raios-X, para caracterizar a discordância entre os parâmetros de rede da… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração

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APA (6th Edition):

Morelhão, S. L. (1990). A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278195

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Morelhão, Sergio Luiz. “A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas .” 1990. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278195.

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MLA Handbook (7th Edition):

Morelhão, Sergio Luiz. “A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas .” 1990. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Morelhão SL. A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1990. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278195.

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Council of Science Editors:

Morelhão SL. A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1990. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278195

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Universidade Estadual de Campinas

4. Costa, Conceição Aparecida Braga Salles da. Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicações .

Degree: 1989, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: No presente trabalho, foi implementado um programa (MULTX) que é utilizado para simular diagramas de difração múltipla de raios-X em geometria de Renninger. Neste… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração

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APA (6th Edition):

Costa, C. A. B. S. d. (1989). Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicações . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278183

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Costa, Conceição Aparecida Braga Salles da. “Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicações .” 1989. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278183.

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MLA Handbook (7th Edition):

Costa, Conceição Aparecida Braga Salles da. “Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicações .” 1989. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Costa CABSd. Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicações . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1989. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278183.

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Council of Science Editors:

Costa CABSd. Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicações . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1989. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278183

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Universidade Estadual de Campinas

5. Avanci, Luis Humberto. Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X .

Degree: 1995, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, os casos de três feixes de superfície (000 200 111) da difração múltipla de raios-X são utilizados de forma inédita, na caracterização… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Semicondutores

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APA (6th Edition):

Avanci, L. H. (1995). Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278153

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Avanci, Luis Humberto. “Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X .” 1995. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278153.

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MLA Handbook (7th Edition):

Avanci, Luis Humberto. “Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X .” 1995. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Avanci LH. Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1995. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278153.

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Avanci LH. Caracterização de heteroestruturas InP/GaAs(100) por difração múltipla de raios-X . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1995. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278153

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Universidade Estadual de Campinas

6. Sasaki, José Marcos. Diagrama Renninger com radiação de freamento de elétrons e síncrotron no estudo de estruturas heteroepitaxiais .

Degree: 1993, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, estruturas heteroepitaxiais semicondutoras foram estudadas através de diagramas Renninger obtidos com radiação de freamento de elétrons e radiação síncroton. Na simulação dos… (more)

Subjects/Keywords: Radiação sincrotrônica; Semicondutores - Efeito da radiação; Raios - Difração

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APA (6th Edition):

Sasaki, J. M. (1993). Diagrama Renninger com radiação de freamento de elétrons e síncrotron no estudo de estruturas heteroepitaxiais . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278189

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Sasaki, José Marcos. “Diagrama Renninger com radiação de freamento de elétrons e síncrotron no estudo de estruturas heteroepitaxiais .” 1993. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278189.

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MLA Handbook (7th Edition):

Sasaki, José Marcos. “Diagrama Renninger com radiação de freamento de elétrons e síncrotron no estudo de estruturas heteroepitaxiais .” 1993. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Sasaki JM. Diagrama Renninger com radiação de freamento de elétrons e síncrotron no estudo de estruturas heteroepitaxiais . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1993. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278189.

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Council of Science Editors:

Sasaki JM. Diagrama Renninger com radiação de freamento de elétrons e síncrotron no estudo de estruturas heteroepitaxiais . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1993. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278189

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Universidade Estadual de Campinas

7. Morelhão, Sergio Luiz. Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x .

Degree: 1994, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, o potencial da técnica de difração múltipla (DM) de raios-X, para o estudo de heteroestruturas e substratos semicondutores, é explorado. A DM… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Semicondutores; Cristais

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APA (6th Edition):

Morelhão, S. L. (1994). Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278168

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Morelhão, Sergio Luiz. “Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x .” 1994. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278168.

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MLA Handbook (7th Edition):

Morelhão, Sergio Luiz. “Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x .” 1994. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Morelhão SL. Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1994. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278168.

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Council of Science Editors:

Morelhão SL. Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1994. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278168

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Universidade Estadual de Campinas

8. Calligaris de Andrade, Guilherme, 1984-. Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes .

Degree: 2014, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: O alto controle e reprodutibilidade envolvidos nas técnicas de implantação e de irradiação iônica fazem com que elas sejam muito utilizadas por permitir modificação… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração múltipla; Implantação iônica; Semicondutores

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APA (6th Edition):

Calligaris de Andrade, Guilherme, 1. (2014). Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/276999

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Calligaris de Andrade, Guilherme, 1984-. “Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes .” 2014. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/276999.

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MLA Handbook (7th Edition):

Calligaris de Andrade, Guilherme, 1984-. “Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes .” 2014. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Calligaris de Andrade, Guilherme 1. Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2014. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/276999.

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Council of Science Editors:

Calligaris de Andrade, Guilherme 1. Estudo de defeitos induzidos pela implantação/irradiação de íons em Si(001) por difração de raios-X de n-feixes . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2014. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/276999

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Universidade Estadual de Campinas

9. Tedesco, Julio Cesar Guimarães, 1973-. Estudo magnético e calorimétrico sobre a série TbxPr1-xAl2 .

Degree: 2012, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho propomos o estudo de algumas propriedades magnéticas e do efeito magnetocalórico (EMC) de compostos da família TbxPr1-xAl2, onde x = 0,1; 0,2;… (more)

Subjects/Keywords: Materiais magnéticos; Efeito magnetocalórico; Efeito de polarização por troca

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APA (6th Edition):

Tedesco, Julio Cesar Guimarães, 1. (2012). Estudo magnético e calorimétrico sobre a série TbxPr1-xAl2 . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277272

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Tedesco, Julio Cesar Guimarães, 1973-. “Estudo magnético e calorimétrico sobre a série TbxPr1-xAl2 .” 2012. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277272.

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MLA Handbook (7th Edition):

Tedesco, Julio Cesar Guimarães, 1973-. “Estudo magnético e calorimétrico sobre a série TbxPr1-xAl2 .” 2012. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Tedesco, Julio Cesar Guimarães 1. Estudo magnético e calorimétrico sobre a série TbxPr1-xAl2 . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2012. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277272.

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Council of Science Editors:

Tedesco, Julio Cesar Guimarães 1. Estudo magnético e calorimétrico sobre a série TbxPr1-xAl2 . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2012. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277272

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Universidade Estadual de Campinas

10. Menezes, Alan Silva de. Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes .

Degree: 2010, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, a difração múltipla (DM) de raios-X associada com as vantagens da radiação síncrotron configura-se como uma microssonda de alta resolução e é… (more)

Subjects/Keywords: Semicondutores; Implantação iônica; Raios X - Difração múltipla; Pontos quânticos

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APA (6th Edition):

Menezes, A. S. d. (2010). Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278200

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Menezes, Alan Silva de. “Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes .” 2010. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278200.

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MLA Handbook (7th Edition):

Menezes, Alan Silva de. “Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes .” 2010. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Menezes ASd. Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2010. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278200.

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Council of Science Editors:

Menezes ASd. Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2010. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278200

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Universidade Estadual de Campinas

11. Calligaris de Andrade, Guilherme, 1984-. Modificação de hábito e análise estrutural de monocristais quase perfeitos de NaBrO3 dopados com S2O6 por difração de raios X de n-feixes e absorção .

Degree: 2018, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Processos de cristalização são continuamente desenvolvidos para alcançar a demanda crescente da indústria química em otimizar características como boa fluidez, compactação, dissolução, entre outras.… (more)

Subjects/Keywords: Cristalografia; Cristais - Crescimento; Raios X - Difração; Estrutura fixa de absorção de raio X estendido (EXAFS); Modelagem molecular

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APA (6th Edition):

Calligaris de Andrade, Guilherme, 1. (2018). Modificação de hábito e análise estrutural de monocristais quase perfeitos de NaBrO3 dopados com S2O6 por difração de raios X de n-feixes e absorção . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/332198

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Calligaris de Andrade, Guilherme, 1984-. “Modificação de hábito e análise estrutural de monocristais quase perfeitos de NaBrO3 dopados com S2O6 por difração de raios X de n-feixes e absorção .” 2018. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/332198.

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Calligaris de Andrade, Guilherme, 1984-. “Modificação de hábito e análise estrutural de monocristais quase perfeitos de NaBrO3 dopados com S2O6 por difração de raios X de n-feixes e absorção .” 2018. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Calligaris de Andrade, Guilherme 1. Modificação de hábito e análise estrutural de monocristais quase perfeitos de NaBrO3 dopados com S2O6 por difração de raios X de n-feixes e absorção . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2018. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/332198.

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Council of Science Editors:

Calligaris de Andrade, Guilherme 1. Modificação de hábito e análise estrutural de monocristais quase perfeitos de NaBrO3 dopados com S2O6 por difração de raios X de n-feixes e absorção . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2018. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/332198

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Universidade Estadual de Campinas

12. Paula, Vinícius Gomes de, 1986-. Estudo do impacto da moagem mecânica nas propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de intermetálicos RM2 (R= Er, Ho, Dy e Gd ; M=Al,Co) .

Degree: 2017, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Esta tese tem como objetivo o estudo das propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de compostos da família RM_2 (R=Er,Ho,Dy,Gd e M=Al e Co) analisados… (more)

Subjects/Keywords: Efeito magnetocalórico; Compostos intermetálicos

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APA (6th Edition):

Paula, Vinícius Gomes de, 1. (2017). Estudo do impacto da moagem mecânica nas propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de intermetálicos RM2 (R= Er, Ho, Dy e Gd ; M=Al,Co) . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/331486

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Paula, Vinícius Gomes de, 1986-. “Estudo do impacto da moagem mecânica nas propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de intermetálicos RM2 (R= Er, Ho, Dy e Gd ; M=Al,Co) .” 2017. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/331486.

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MLA Handbook (7th Edition):

Paula, Vinícius Gomes de, 1986-. “Estudo do impacto da moagem mecânica nas propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de intermetálicos RM2 (R= Er, Ho, Dy e Gd ; M=Al,Co) .” 2017. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Paula, Vinícius Gomes de 1. Estudo do impacto da moagem mecânica nas propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de intermetálicos RM2 (R= Er, Ho, Dy e Gd ; M=Al,Co) . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2017. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/331486.

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Paula, Vinícius Gomes de 1. Estudo do impacto da moagem mecânica nas propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de intermetálicos RM2 (R= Er, Ho, Dy e Gd ; M=Al,Co) . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2017. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/331486

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Universidade Estadual de Campinas

13. Dos Santos, Adenilson Oliveira. Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração múltipla de raios-X .

Degree: 2002, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo:Neste trabalho, a difração múltipla de raios-X (DM) é usada para investigar distorções na rede cristalina induzidas por um campo elétrico externo (E) permitindo a… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Cristais ferroelétricos; Piezoeletricidade

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APA (6th Edition):

Dos Santos, A. O. (2002). Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração múltipla de raios-X . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278187

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Dos Santos, Adenilson Oliveira. “Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração múltipla de raios-X .” 2002. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278187.

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Dos Santos, Adenilson Oliveira. “Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração múltipla de raios-X .” 2002. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Dos Santos AO. Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração múltipla de raios-X . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2002. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278187.

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Dos Santos AO. Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração múltipla de raios-X . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2002. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278187

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Universidade Estadual de Campinas

14. Chiaramonte, Thalita. Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X .

Degree: 2003, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Técnicas de Difração de Raios-X foram utilizadas com o objetivo de caracterizar as propriedades mecânicas de filmes finos e multicamadas de TiO2 e TiNxOy,… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Filmes finos - Propriedades mecânicas; Epitaxia; Cristais - Crescimento

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APA (6th Edition):

Chiaramonte, T. (2003). Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278192

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Chiaramonte, Thalita. “Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X .” 2003. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278192.

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Chiaramonte, Thalita. “Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X .” 2003. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Chiaramonte T. Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2003. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278192.

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Chiaramonte T. Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2003. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278192

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Universidade Estadual de Campinas

15. Menezes, Alan Silva de. Difração múltipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada .

Degree: 2006, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, o método baseado na variação nas posições angulares dos picos secundários em uma varredura Renninger da difração múltipla de raios-X usando radiação… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração múltipla; Aminoácidos; L-histidina; Piezoeletricidade

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APA (6th Edition):

Menezes, A. S. d. (2006). Difração múltipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278148

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Menezes, Alan Silva de. “Difração múltipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada .” 2006. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278148.

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Menezes, Alan Silva de. “Difração múltipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada .” 2006. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Menezes ASd. Difração múltipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2006. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278148.

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Menezes ASd. Difração múltipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2006. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278148

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Universidade Estadual de Campinas

16. Gorga, Rejane Cesario Pereira, 1978-. Investigação da formação de solução solida de misturas binarias de acidos graxos atraves de difração de raios-X .

Degree: 2007, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: o estudo do comportamento dos ácidos graxos, presentes em óleos e gorduras de origem vegetal é importante, pois eles se apresentam sob a forma… (more)

Subjects/Keywords: Ácidos graxos; Raios X - Difração; Rietveld, Método de

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APA (6th Edition):

Gorga, Rejane Cesario Pereira, 1. (2007). Investigação da formação de solução solida de misturas binarias de acidos graxos atraves de difração de raios-X . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/266312

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Gorga, Rejane Cesario Pereira, 1978-. “Investigação da formação de solução solida de misturas binarias de acidos graxos atraves de difração de raios-X .” 2007. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/266312.

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Gorga, Rejane Cesario Pereira, 1978-. “Investigação da formação de solução solida de misturas binarias de acidos graxos atraves de difração de raios-X .” 2007. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Gorga, Rejane Cesario Pereira 1. Investigação da formação de solução solida de misturas binarias de acidos graxos atraves de difração de raios-X . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2007. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/266312.

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Gorga, Rejane Cesario Pereira 1. Investigação da formação de solução solida de misturas binarias de acidos graxos atraves de difração de raios-X . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2007. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/266312

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Universidade Estadual de Campinas

17. Gelamo, Rogerio Valentim. Análise de camadas epitaxiais finas crescidas através de CBE utilizando curvas de rocking e varreduras Renninger .

Degree: 2002, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo:Neste trabalho, heteroestruturas semicondutoras com camadas finas de espessura variável de GaxIn1-xP, crescidas sobre substratos de GaAs(001) através da técnica de Epitaxia por Feixe Químico… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Semicondutores; Filmes semicondutores; Filmes finos; Superfícies (Tecnologia)

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APA (6th Edition):

Gelamo, R. V. (2002). Análise de camadas epitaxiais finas crescidas através de CBE utilizando curvas de rocking e varreduras Renninger . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278152

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Gelamo, Rogerio Valentim. “Análise de camadas epitaxiais finas crescidas através de CBE utilizando curvas de rocking e varreduras Renninger .” 2002. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278152.

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MLA Handbook (7th Edition):

Gelamo, Rogerio Valentim. “Análise de camadas epitaxiais finas crescidas através de CBE utilizando curvas de rocking e varreduras Renninger .” 2002. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Gelamo RV. Análise de camadas epitaxiais finas crescidas através de CBE utilizando curvas de rocking e varreduras Renninger . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2002. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278152.

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Council of Science Editors:

Gelamo RV. Análise de camadas epitaxiais finas crescidas através de CBE utilizando curvas de rocking e varreduras Renninger . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2002. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278152

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Universidade Estadual de Campinas

18. Avanci, Luis Humberto. Estudos estruturais em materiais orgânicos para a óptica não-linear usando a difração múltipla de raios-x .

Degree: 1999, Universidade Estadual de Campinas

Resumo: Não informado; Abstract: Not informed Advisors/Committee Members: Cardoso, Lisandro Pavie, 1950- (advisor), Sasaki, José Marcos (committee member), Mazzocchi, Vera lucia (committee member), Campos, Cícero (committee member).

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Compostos orgânicos; Piezoeletricidade

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APA (6th Edition):

Avanci, L. H. (1999). Estudos estruturais em materiais orgânicos para a óptica não-linear usando a difração múltipla de raios-x . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278207

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Avanci, Luis Humberto. “Estudos estruturais em materiais orgânicos para a óptica não-linear usando a difração múltipla de raios-x .” 1999. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278207.

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MLA Handbook (7th Edition):

Avanci, Luis Humberto. “Estudos estruturais em materiais orgânicos para a óptica não-linear usando a difração múltipla de raios-x .” 1999. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Avanci LH. Estudos estruturais em materiais orgânicos para a óptica não-linear usando a difração múltipla de raios-x . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1999. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278207.

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Council of Science Editors:

Avanci LH. Estudos estruturais em materiais orgânicos para a óptica não-linear usando a difração múltipla de raios-x . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1999. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278207

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Universidade Estadual de Campinas

19. Chiaramonte, Thalita. Crescimento e caraterização de estruturas de baixa dimensionalidade para aplicações no espectro vísivel .

Degree: 2007, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Os nitretos (Ga, Al, In)N assim como os compostos GaInP, GaCuO2, representam um sistema de materiais muito importante para as aplicações em opto-eletrônica e… (more)

Subjects/Keywords: Crescimento MOCVD; Materiais nanoestruturados; Materiais microestruturatos; Nanofios semicondutores; Caracterização estrutural e ótica

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APA (6th Edition):

Chiaramonte, T. (2007). Crescimento e caraterização de estruturas de baixa dimensionalidade para aplicações no espectro vísivel . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278180

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Chiaramonte, Thalita. “Crescimento e caraterização de estruturas de baixa dimensionalidade para aplicações no espectro vísivel .” 2007. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278180.

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MLA Handbook (7th Edition):

Chiaramonte, Thalita. “Crescimento e caraterização de estruturas de baixa dimensionalidade para aplicações no espectro vísivel .” 2007. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Chiaramonte T. Crescimento e caraterização de estruturas de baixa dimensionalidade para aplicações no espectro vísivel . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2007. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278180.

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Chiaramonte T. Crescimento e caraterização de estruturas de baixa dimensionalidade para aplicações no espectro vísivel . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2007. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278180

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Universidade Estadual de Campinas

20. Orloski, Renata Villela. Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de íons em semicondutores .

Degree: 2006, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Neste trabalho, a difração Bragg-Superfície (BSD), um caso especial da difração múltipla de raios-X, foi usada como uma microssonda de superfície com resolução para… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Difração Bragg-Superfície; Semicondutores; Implantação iônica; Junções rasas

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APA (6th Edition):

Orloski, R. V. (2006). Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de íons em semicondutores . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278176

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Orloski, Renata Villela. “Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de íons em semicondutores .” 2006. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278176.

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MLA Handbook (7th Edition):

Orloski, Renata Villela. “Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de íons em semicondutores .” 2006. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Orloski RV. Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de íons em semicondutores . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2006. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278176.

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Orloski RV. Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de íons em semicondutores . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2006. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278176

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Universidade Estadual de Campinas

21. Hayashi, Marcelo Assaoka. Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados .

Degree: 1999, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Este trabalho tem como objetivo o desenvolvimento da difração múlt ipla de raios-X, como uma nova técnica de caracterização de materiais semicondutores submetidos à… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Semicondutores; Implantação iônica

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APA (6th Edition):

Hayashi, M. A. (1999). Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278194

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Chicago Manual of Style (16th Edition):

Hayashi, Marcelo Assaoka. “Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados .” 1999. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278194.

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Hayashi, Marcelo Assaoka. “Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados .” 1999. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Hayashi MA. Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1999. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278194.

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Hayashi MA. Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 1999. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278194

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Universidade Estadual de Campinas

22. Dos Santos, Adenilson Oliveira. Difra??o de raios-X de n-feixes na caracteriza??o estrutural de monocristais sob a a??o de temperatura e campo el?trico externo .

Degree: 2006, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: Como primeira contribui??o deste trabalho, as varreduras Renninger (VR) da difra??o m?ltipla de raios-X foram empregadas no estudo da transi??o de fase estrutural do… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difra??o m?ltipla; Transforma??es de fase (F?sica estat?stica); Materiais magnetocal?ricos; Materiais ferrel?tricos

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Dos Santos, A. O. (2006). Difra??o de raios-X de n-feixes na caracteriza??o estrutural de monocristais sob a a??o de temperatura e campo el?trico externo . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278132

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Dos Santos, Adenilson Oliveira. “Difra??o de raios-X de n-feixes na caracteriza??o estrutural de monocristais sob a a??o de temperatura e campo el?trico externo .” 2006. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278132.

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Dos Santos, Adenilson Oliveira. “Difra??o de raios-X de n-feixes na caracteriza??o estrutural de monocristais sob a a??o de temperatura e campo el?trico externo .” 2006. Web. 28 Feb 2020.

Vancouver:

Dos Santos AO. Difra??o de raios-X de n-feixes na caracteriza??o estrutural de monocristais sob a a??o de temperatura e campo el?trico externo . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2006. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278132.

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Dos Santos AO. Difra??o de raios-X de n-feixes na caracteriza??o estrutural de monocristais sob a a??o de temperatura e campo el?trico externo . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2006. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278132

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Universidade Estadual de Campinas

23. Martins, Jairo Aparecido. Analise de tensões residuais em valvulas estampadas por meio da difração de raios-X e do metodo de elementos finitos .

Degree: 2004, Universidade Estadual de Campinas

 Resumo: A evolução dos materiais, de seus processos de transformação e de diversos componentes mecânicos vêm requerendo cada vez mais o desenvolvimento de técnicas e… (more)

Subjects/Keywords: Raios X - Difração; Método dos elementos finitos; Tensões residuais; Deformação plástica

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Martins, J. A. (2004). Analise de tensões residuais em valvulas estampadas por meio da difração de raios-X e do metodo de elementos finitos . (Thesis). Universidade Estadual de Campinas. Retrieved from http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/264486

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Martins, Jairo Aparecido. “Analise de tensões residuais em valvulas estampadas por meio da difração de raios-X e do metodo de elementos finitos .” 2004. Thesis, Universidade Estadual de Campinas. Accessed February 28, 2020. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/264486.

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Martins JA. Analise de tensões residuais em valvulas estampadas por meio da difração de raios-X e do metodo de elementos finitos . [Internet] [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2004. [cited 2020 Feb 28]. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/264486.

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Martins JA. Analise de tensões residuais em valvulas estampadas por meio da difração de raios-X e do metodo de elementos finitos . [Thesis]. Universidade Estadual de Campinas; 2004. Available from: http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/264486

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