Full Record

New Search | Similar Records

Author
Title Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits : バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
URL
Publication Date
Degree 博士(情報学)
University/Publisher Kyoto University / 京都大学
Abstract

新制・課程博士

甲第19137号

情博第583号

Subjects/Keywords CMOS; NBTI; RTN; combinational circuit; gate oxide; reliability; noise
Language en
Rights 許諾条件により本文は2016/03/22に公開
Country of Publication jp
Record ID oai:irdb.nii.ac.jp:0019/00161293
Repository jairo
Date Retrieved
Date Indexed 2017-10-16
Issued Date 2015-03-23 00:00:00

Sample Images

.